YANG Xiaonan について
Inst. Microelectronics, Chinese Acad. Sci., Beijing, CHN について
WANG Yong について
Inst. Microelectronics, Chinese Acad. Sci., Beijing, CHN について
ZHAN Manhong について
Inst. Microelectronics, Chinese Acad. Sci., Beijing, CHN について
HUO Zongliang について
Inst. Microelectronics, Chinese Acad. Sci., Beijing, CHN について
WANG Qin について
Inst. Microelectronics, Chinese Acad. Sci., Beijing, CHN について
LONG Shibing について
Inst. Microelectronics, Chinese Acad. Sci., Beijing, CHN について
LIU Ming について
Inst. Microelectronics, Chinese Acad. Sci., Beijing, CHN について
Semiconductor Science and Technology について
ナノ結晶 について
ケイ素 について
半導体 について
記憶素子 について
データ書込 について
データ消去 について
繰返し試験 について
キャリア捕獲 について
捕獲中心 について
容量電圧特性 について
電流電圧特性 について
蓄積層 について
反転層 について
電圧 について
Fowler-Nordheimトンネリング について
酸化膜 について
Fermi準位 について
漏れ電流 について
耐久性 について
閾電圧 について
半導体集積回路 について
ナノ結晶シリコン について
メモリ素子 について
書込み について
消去 について
過程 について
トラップ について
解析 について