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J-GLOBAL ID：201102284223377287   整理番号：11A0945727

陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した純鉄の空孔型欠陥マップ

Two-dimensional Defect Map for the Deformed Pure Iron Samples by Positron Probe Microanalyzer

著者 (7件)： 藤浪真紀 (千葉大学大学院工学研究科) ,  河島祐二 (千葉大学大学院工学研究科) ,  柳響介 (千葉大学大学院工学研究科) ,  神野智史 (千葉大学大学院工学研究科) ,  打越雅仁 (東北大学多元物質科学研究所) ,  一色実 (東北大学多元物質科学研究所) ,  鈴木茂 (東北大学多元物質科学研究所)
資料名： 鉄と鋼
巻： 97  号： 5  ページ： 266-272 (J-STAGE)  発行年： 2011年 
JST資料番号： F0332A  ISSN： 0021-1575  CODEN： TEHAA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 陽電子消滅法の金属中の格子欠陥などの局所観察手法への展開が強く期待されている。はじめに,陽電子発生源の輝度が非常に低いという問題点を解決した筆者らの開発してきた陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA)の光学系の構成および性能を述べた。装置には陽電子の発生源²²Naを採用し,その直前に単色化のためのWメッシュと引出電極が設置されている。陽電子がある種の物質に対して負の仕事関数をもつという特異的な性質を再び利用した低い輝度の問題点の克服法に言及した。このことにより陽電子をマイクロビーム化して試料に入射・走査することにより空孔型欠陥の二次元分布計測を可能とした。次に,PPMAを応用した純鉄と鉄-銅合金の塑性変形誘起欠陥の観察結果について詳述した。本装置により,これまで困難であったμmオーダーの局所領域の空孔型欠陥の検出が可能となった。

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,  *純鉄 ,  塑性変形 ,  *格子欠陥 ,  *構造 ,  輝度 ,  *空格子点 ,  鉄合金 ,  銅含有合金 ,  *局所構造 ,  *陽電子プローブマイクロアナライザ
準シソーラス用語： *空孔【点欠陥】

分類 (2件)： 金属の格子欠陥  (BK12030F) ,  金属材料  (HC03020E)

引用文献 (33件)：

• 1) M.Fujinami: Met. Technol. (Jpn.), 79 (2009), 769.
• 2) Y.Nagai and M.Hasegawa: Butsuri, 60 (2005), 842.
• 3) M.Doyama: Mater. Chem., 50 (1997), 106.
• 4) R.Krause-Rehberg and H.S.Leipner: Positron Annihilation in Semiconductors—Defect Studies, Springer-Verlag, Berlin, (1999).
• 5) P.G.Coleman: Positron Beams and Their Applications, World Scientific Publishing, Singapore, (2000).

タイトルに関連する用語 (6件)： 陽電子プローブマイクロアナライザー ,  塑性変形 ,  純鉄 ,  空孔 ,  欠陥 ,  マップ