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J-GLOBAL ID：201102285917608169   整理番号：11A1376221

マイクロコンピュータ断層撮影(マイクロCT)と集束イオンビーム走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)の併用によるベレア砂岩の微細構造の理解

Understanding the micro structure of Berea Sandstone by the simultaneous use of micro-computed tomography (micro-CT) and focused ion beam-scanning electron microscopy (FIB-SEM)

著者 (3件)： BERA Bijoyendra (Univ. Alberta Edmonton, CAN) ,  MITRA Sushanta K. (Univ. Alberta Edmonton, CAN) ,  VICK Douglas (NRC-National Inst. for Nanotechnology, Edmonton, CAN)
資料名： Micron  (Micron)
巻： 42  号： 5  ページ： 412-418  発行年： 2011年07月 
JST資料番号： E0318E  ISSN： 0968-4328  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (10件)： マイクロコンピュータ ,  断層撮影 ,  マイクロCT ,  集束イオンビーム ,  走査型電子顕微鏡 ,  FIB-SEM ,  併用 ,  砂岩 ,  微細構造 ,  理解