腐食試験方法

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者： , ,
代理人 (1件)：山野宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-183050
公開番号（公開出願番号）：特開2011-033596
出願日： 2009年08月06日
公開日（公表日）： 2011年02月17日
要約：

【課題】腐食が比較的緩やかに進行する環境下で利用される端子付き電線の耐食性の評価に適した腐食試験方法、及び腐食試験システムを提供する。【解決手段】この腐食試験方法は、導体10cの外周に絶縁層10iを具える電線10の端部に端子部材11が取り付けられた試料1を一対用意し、各試料1の端子部材11を離間して配置して電解質を含有する流体5に浸漬させ、この状態で、電源装置3により試料1に定電流を通電する。通電されることで両端子部材11間には、端子部材11間に介在された流体5を介してリーク電流が流れ、このリーク電流により、端子部材11が腐食する。通電は、端子部材11の露出面積に対して、電流値を0.19mA/mm2未満とし、電荷量が20C/mm2以下となる範囲の時間で行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

導体の外周に絶縁層を具える電線の端部に端子部材を取り付けた試料の腐食状況を調べるための腐食試験方法であって、前記試料と電極材とを用意して、当該試料の端子部材と当該電極材とを離間して配置する工程と、前記試料の端子部材と前記電極材との間に電解質を含有する流体を介在させた状態を維持しながら、前記試料の端子部材と前記電極材との間に電流が流れるように、前記試料と前記電極材とに定電流を通電する工程とを具え、前記通電は、電流値を0.19mA/mm2未満とし、電荷量が20C/mm2以下となる範囲の時間で行うことを特徴とする腐食試験方法。

IPC (3件)：

G01N 17/00 , G01N 27/26 , G01N 27/416

FI (3件)：

G01N17/00 , G01N27/26 351D , G01N27/46 341M

Fターム (11件)：

2G050AA01 , 2G050AA04 , 2G050BA02 , 2G050CA04 , 2G050EA01 , 2G050EA02 , 2G050EA06 , 2G050EB03 , 2G050EB07 , 2G050EC01 , 2G050EC05

引用特許：

出願人引用 (6件)

特開昭56-006139
嵌合型接続端子の電線接続構造
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-047011 出願人：株式会社ハーネス総合技術研究所, 住友電装株式会社, 住友電気工業株式会社
特開昭61-205846

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