特許
J-GLOBAL ID：201103001236760847
被測定物の特性計測装置、被測定物の特性計測方法、プログラムおよび発光体
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
古部 次郎
, 伊與田 幸穂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-181061
公開番号（公開出願番号）：特開2011-033508
出願日： 2009年08月03日
公開日（公表日）： 2011年02月17日
要約：
【課題】発光素子を含む被測定物の放射輝度を測定し、被測定物の形状を考慮した演算処理により、被測定物から放射される光の放射強度分布と放射発散度分布をより正確に得ることができる被測定物の特性計測装置等を提供する。【解決手段】予め定められた仮想的な球面に沿って移動し、LEDチップ21から放射されイメージセンサに達する光の光量を測定するカメラ120と、LEDチップ21の形状情報を取得し、カメラ120により測定されたイメージセンサに達する光の光量から放射強度分布を算出し、LEDチップ21の形状情報および放射強度分布からLEDチップ21表面における光の放射発散度分布を算出する演算装置160と、を備えることを特徴とする被測定物の特性計測装置100。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
被測定物から放射され測定面に達する光の光量を測定する光量測定部と、
前記被測定物の形状情報を取得し、前記光量測定部により測定された前記測定面に達する光の光量から放射強度分布を算出し、当該形状情報および当該放射強度分布から当該被測定物表面における光の放射発散度分布を算出する演算部と、
を備えることを特徴とする被測定物の特性計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
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