特許
J-GLOBAL ID:201103002828609617
外観検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
川口 光男
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-325214
公開番号(公開出願番号):特開2001-141426
特許番号:特許第3846617号
出願日: 1999年11月16日
公開日(公表日): 2001年05月25日
請求項(抜粋):
【請求項1】 検査対象物の表面に付された複数種の表示情報の良否を判定するための外観検査装置であって、
前記表面からの反射光を受光する撮像手段と、該撮像手段によって得られた多値画像を二値画像に変換可能であり、その二値画像及び多値画像に基づいて表示情報の良否を判定する画像処理装置とを備え、
該画像処理装置は、前記複数種の表示情報を分割して各表示情報毎に良否判定処理を行うものであり、かつ、
前記画像処理装置は、二値画像に基づいて前記検査対象物の表示情報が付された領域の輪郭位置を測定し、その測定結果に基づいて二値画像に対し複数のウインドを設定し、各ウインドを利用して各表示情報の良否判定を行うものであり、
前記ウインドのうち第1のウインドを、表示情報が付された領域と表示情報が付されていない領域とに跨るように設定し、該第1のウインド内の多値画像を検査することにより、第1のウインド内の明画像と暗画像の切り替わりを判別するようにし、
前記ウインドのうち第2のウインドを、所定の複数の表示情報を包含しかつ前記検査対象物の表面から部分的に逸脱する大きさ及び位置となるように設定し、該第2のウインド内での各表示情報の検査に際しては前記表面よりも外周側の領域をマスク処理するようにし、
前記ウインドのうち第3のウインドを、前記検査対象物の表示情報が付された領域の輪郭の内外に跨るように設定し、
該第3のウインド内及び前記第1のウインド内において、それぞれの多値画像に基づいて明画像部分を抽出し、当該明画像部分の輝度の平均値を、前記検査対象物の表面よりも外周側の領域の画像データに当てはめることで、前記第2のウインド内でのマスク処理を行うようにしたことを特徴とする外観検査装置。
IPC (4件):
G01N 21/88 ( 200 6.01)
, B41J 29/46 ( 200 6.01)
, G01B 11/24 ( 200 6.01)
, G06T 9/20 ( 200 6.01)
FI (5件):
G01N 21/88 J
, B41J 29/46 C
, G01B 11/24 F
, G01B 11/24 K
, G06T 9/20
引用特許:
審査官引用 (11件)
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特開昭55-074667
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マーク検査方法及び装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-192384
出願人:ソニー株式会社
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パタ-ン認識方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-322213
出願人:日本アビオニクス株式会社
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特開平2-251714
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電解コンデンサの製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-201284
出願人:エルナー株式会社
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特開昭55-074667
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特開平2-251714
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特開昭55-074667
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特開平2-251714
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パターン認識方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-205735
出願人:株式会社東芝
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マーク認識装置およびマーク認識方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-260210
出願人:三菱電機株式会社
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