特許

J-GLOBAL ID：201103003034017185

乾式粒径分布測定装置

発明者： 山口 哲司
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-379029
公開番号（公開出願番号）：特開2003-177085
特許番号：特許第3809099号
出願日： 2001年12月12日
公開日（公表日）： 2003年06月27日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 粉粒体状の試料を、空気を流動させているフローセルに供給するとともに、このフローセルにレーザ光を照射して、前記試料による散乱光および/または回折光の検出出力に基づいて試料の粒径分布を測定する乾式粒径分布測定装置において、前記フローセルの上方に該フローセルに連なる試料ガイド部が設けられているとともに、この試料ガイド部内に圧縮空気を一点で収束するように吹き出すことで生じる臨界圧及び亜音速に達する一次分散流によって試料を一次分散させ、かつ、前記試料ガイド部内に一次分散された試料の落下方向に対して異なる方向から前記一次分散流が収束する点において圧縮空気を吹き出すことで発生する臨界圧及び亜音速に達する衝撃流によって一次分散後の試料を二次分散させるように構成したことを特徴とする乾式粒径分布測定装置。

IPC (2件)：

G01N 15/02 ( 200 6.01) ,  G01N 15/00 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G01N 15/02 A ,  G01N 15/00 C

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 粒度分布測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-329830   出願人：株式会社堀場製作所
• 粉体ノズル
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-099997   出願人：間藤公利

審査官引用 (2件)

• 粒度分布測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-329830   出願人：株式会社堀場製作所
• 粉体ノズル
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-099997   出願人：間藤公利