特許

J-GLOBAL ID：201103004039268336

実装基板の外観検査システムおよび外観検査方法

発明者： 木原 正宏
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (3件)： 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-142804
公開番号（公開出願番号）：特開2002-340813
特許番号：特許第4090705号
出願日： 2001年05月14日
公開日（公表日）： 2002年11月27日
請求項（抜粋）：

【請求項1】実装基板を撮像して得られた画像データに基づいて所定の検査を行う外観検査装置を複数備え同一の実装基板の外観検査をこれら複数の外観検査装置によって分担して行う実装基板の外観検査システムであって、前記外観検査装置は、実装基板を撮像する撮像手段と、この撮像手段を撮像対象の実装基板に対して相対的に移動させることにより撮像視野を実装基板上で移動させる視野移動手段と、撮像手段によって入手された画像データを処理して所定の検査を行う検査処理手段と、当該外観検査装置によって1枚の実装基板の外観検査を行うのに要するタクトタイムを実測するタクト実測手段と、実装基板上での検査対象となる撮像視野を示す検査視野についてのデータを実装基板毎に記憶する検査視野データ記憶手段と、前記タクト実測手段の実測結果に基づいて各外観検査装置が分担する検査範囲を設定する分担範囲設定手段とを備え、 前記分担範囲設定手段による前記検査範囲の設定は、先ず分担検査範囲の初期設定を行って分担視野を割付け、次いで実際の実装基板について所定枚数だけ外観検査を行って、初期設定に基づいた分担検査範囲の外観検査を実行するのに要した実測タクトタイムを求め、次いでそれぞれの外観検査装置の実測タクトタイムが等しくなるように分担視野の再割付を行い、この再割付を実測タクトタイム間の差が許容ばらつき範囲内に収束するまで反復するものであり、前記検査範囲の設定は、管理コンピュータまたは管理コンピュータの機能を有する前記外観検査装置の検査範囲設定処理部によってデータを更新する処理を反復して行うことを特徴とする実装基板の外観検査システム。

IPC (4件)：

G01N 21/956 ( 200 6.01) ,  G01B 11/00 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01) ,  H01L 21/66 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G01N 21/956 B ,  G01B 11/00 H ,  G06T 1/00 305 B ,  H01L 21/66 J

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 作業編成システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-020527   出願人：マツダ株式会社
• 特開平4-275845
  
• 基板検査システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-210263   出願人：オムロン株式会社
• 特開平4-275845
  
• 特開平4-275845