半導体装置のテスト回路とテスト方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：畑泰之
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-011674
公開番号（公開出願番号）：特開2000-215694
特許番号：特許第3447598号
出願日： 1999年01月20日
公開日（公表日）： 2000年08月04日
請求項（抜粋）：

【請求項1】半導体装置内の各記機能ブロックを複数のテストモードでテストする半導体装置のテスト回路において、外部から予め設定された動作モードに応じたテストモードをデコードし、前記テストモードに応じたデコード信号を出力するデコーダと、テストモードの設定を同期化するための制御信号と、前記デコード信号によるモード設定を前記制御信号で同期化するための同期化回路と、前記同期化回路の出力信号をテストモード信号として保持する第1の回路とからなり、前記第1の回路の出力信号と前記同期化回路の出力信号とに基づいて、前記半導体装置のテストを行うことを特徴とする半導体装置のテスト回路。

IPC (2件)：