変形計測システム及び方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：吉田研二 , 石田純
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-159040
公開番号（公開出願番号）：特開2002-350115
特許番号：特許第4333055号
出願日： 2001年05月28日
公開日（公表日）： 2002年12月04日
請求項（抜粋）：

【請求項1】変形計測対象物の第1の部位に取り付けられ、複数の測定光ビームを出力する手段と、前記変形計測対象物の第2の部位に取り付けられ、前記各測定光ビーム毎にその二次元の受光位置を検出する手段と、前記各測定光ビームの二次元の受光位置に基づき、前記第1の部位と前記第2の部位の相対変形を計算する手段と、を備える変形計測システム。

IPC (2件)：