特許
J-GLOBAL ID:201103006772298279
プローブカード
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
大西 孝治 (外1名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-224920
公開番号(公開出願番号):特開2001-050981
特許番号:特許第3392079号
出願日: 1999年08月09日
公開日(公表日): 2001年02月23日
請求項(抜粋):
【請求項1】 ウエハ上に形成された半導体集積集積回路の電気的緒特性を測定する際に用いられるプローブカードにおいて、配線パターンが形成された基板と、先端部分が湾曲した金属針であって前記基板のウエハ側の面に下向きに取り付けられるとともに前記配線パターンと電気接続される鍔付きプローブと、前記基板のウエハ側に隙間を開けて配設されており且つ前記鍔付きプローブの基端部分が通される貫通穴が形成された支持基板とを具備しており、前記鍔付きプローブは前記支持基板のウエハ側の面に当接する鍔部が形成されていることを特徴とするプローブカード。
IPC (3件):
G01R 1/073
, G01R 31/26
, H01L 21/66
FI (3件):
G01R 1/073 D
, G01R 31/26 J
, H01L 21/66 B
引用特許:
出願人引用 (3件)
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特開平4-143663
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端子板およびその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-370316
出願人:株式会社オプトニクス精密
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検査用基板のプローブ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-046627
出願人:日立電子エンジニアリング株式会社
審査官引用 (9件)
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端子板およびその製造方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-370316
出願人:株式会社オプトニクス精密
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特開平4-143663
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特開平4-143663
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特開平4-143663
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検査用基板のプローブ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-046627
出願人:日立電子エンジニアリング株式会社
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特許第5989994号
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特開平4-143663
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特開平4-143663
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特開平4-143663
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