特許
J-GLOBAL ID：201103007157873120

レーザー溶接部の検査方法及びその装置

発明者：
三高 良介

三高 良介 について

, 
▲濱▼田 長生

▲濱▼田 長生 について


出願人/特許権者：
松下電工株式会社

松下電工株式会社 について


代理人 (2件)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-258658
公開番号（公開出願番号）：特開2003-065985
特許番号：特許第4140218号
出願日： 2001年08月28日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 被検査物となる2片の金属を重ね合わせ、その一方の表面にレーザーをスポット照射して溶接したレーザー溶接部を溶接後に検査する方法において、溶接後雰囲気温度まで冷却したレーザー溶接部を赤外線カメラで撮像し、得られた赤外線画像における輝度の差を被検査物表面の赤外線放射率の差を表す指標とみなして溶接部領域を検出する第1の過程と、上記溶接部領域の形状、上記溶接部領域内での赤外線画像の輝度値の分布パターン、上記分布パターンをもとに抽出された特徴量の少なくとも1つをもとに溶接の良否を判定する第2の過程とを有すると共に、少なくともレーザー溶接部の外周部では熱の影響により表面粗さが大きくなり、赤外線放射率が高くなることを利用して、赤外線画像において明るく見える部分を検出し、当該部分の外周輪郭より内側を溶接部領域として検出することを特徴とするレーザー溶接部の検査方法。
IPC (1件)：
G01N 25/72 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01N 25/72 E
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (4件)
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