特許
J-GLOBAL ID：201103007289652157
表面状態分類装置、表面状態分類方法及び表面状態分類プログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
三好 秀和
, 工藤 理恵
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-111019
公開番号（公開出願番号）：特開2011-237369
出願日： 2010年05月13日
公開日（公表日）： 2011年11月24日
要約：
【課題】カメラ画像から観測対象の表面状態を分類すること。【解決手段】観測対象の表面を写した観測画像を入力し、観測画像の各画素の輝度値を一定の光学モデルに当て嵌めて、当て嵌められた一定の光学モデルを解くことにより、観測対象の表面状態を推定し、推定結果に基づいて観測対象の表面状態を分類する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
観測対象の表面を写した観測画像を入力する入力手段と、
入力された前記観測画像を記憶する記憶手段と、
前記観測画像を前記記憶手段から読み出して、前記観測画像の各画素の輝度値を一定の光学モデルに当て嵌めて、当て嵌められた前記一定の光学モデルを解くことにより、前記観測対象の表面状態を推定する当嵌推定手段と、
推定結果に基づいて前記観測対象の表面状態を分類する分類手段と、
を有することを特徴とする表面状態分類装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
2G059AA05
, 2G059BB08
, 2G059BB20
, 2G059EE02
, 2G059FF01
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
