特許
J-GLOBAL ID：201103007433529616

診断機能を有する半導体集積回路

発明者：
尾澤 直人

尾澤 直人 について

, 
堀 聡司

堀 聡司 について


出願人/特許権者：
松下電器産業株式会社

松下電器産業株式会社 について


代理人 (7件)： 小栗 昌平 ,  高松 猛 ,  萩野 平 ,  添田 全一 ,  本多 弘徳 ,  市川 利光 ,  濱田 百合子
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-363166
公開番号（公開出願番号）：特開2001-174518
特許番号：特許第3601774号
出願日： 1999年12月21日
公開日（公表日）： 2001年06月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】所定周期の擬似乱数パルスを生成する擬似乱数発生手段と、前記擬似乱数パルスが供給され、シフト動作と通常動作とが実行可能に構成された複数のフリップフロップ回路を有するスキャンパス設計された少なくとも1つの論理手段と、前記論理手段の出力値と予め設定された期待値とを比較して各値が互いに一致するか否かを判定し、全ての論理手段に対する判定結果に基づいて1つの判定結果を出力する判定手段と、を具備し、前記擬似乱数パルスの周期で一巡するタイミングパルスを生成するタイミング制御手段を有し、前記論理手段が、前記タイミングパルスに基づいて、前記擬似乱数パルスの1周期期間設定されるシフト動作と、少なくとも1クロック期間設定される通常動作とがを順次実行することを特徴とする診断機能を有する半導体集積回路。
IPC (1件)：
G01R 31/28
FI (2件)：
G01R 31/28 G ,  G01R 31/28 V
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM