特許
J-GLOBAL ID：201103009643585376

予後アレルギー試験または予後炎症試験

発明者：
サンプソン, ヒュー エイ.

サンプソン, ヒュー エイ. について


出願人/特許権者：
アラタイン セラピューティクス, エルエルシー

アラタイン セラピューティクス, エルエルシー について


代理人 (3件)： 山本 秀策 ,  安村 高明 ,  森下 夏樹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-529614
特許番号：特許第4292262号
出願日： 1999年01月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】アレルゲンへの曝露によって誘発されるアレルギーの予後を予測するためのデータを提供するための方法であって、 アレルゲンへの曝露によって誘発されるアレルギーを有する個体に由来するIgE抗体を含むサンプルを提供する工程; 該サンプルを、1以上の直鎖状IgEエピトープおよび1以上の高次構造IgEエピトープと接触させる工程であって、該直鎖状IgEエピトープおよび高次構造IgEエピトープが、天然から精製されたアレルゲン、組換えアレルゲン、還元およびアルキル化されたアレルゲン、還元およびアルキル化された該アレルゲンのフラグメント、該アレルゲンのフラグメント、該アレルゲンの4と40との間のアミノ酸に対応するペプチド、またはそれらの組み合わせに由来する、工程; 該直鎖状IgEエピトープおよび高次構造IgEエピトープの反応性について、該サンプルをスクリーニングする工程;ならびに 直鎖状IgEエピトープよりも高次構造IgEエピトープとより反応性であるIgE抗体を有する該個体が、該アレルギーを増大する可能性を有することを決定する工程 を包含する、方法。
IPC (4件)：
G01N 33/68 ( 200 6.01) ,  G01N 33/15 ( 200 6.01) ,  G01N 33/50 ( 200 6.01) ,  G01N 33/53 ( 200 6.01)
FI (4件)：
G01N 33/68 ,  G01N 33/15 Z ,  G01N 33/50 Z ,  G01N 33/53 D
引用特許：
出願人引用 (4件)
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引用文献：
出願人引用 (1件)

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