特許
J-GLOBAL ID：201103009827193853
振動を利用した物理パラメータ測定装置
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
役 昌明
, 大橋 公治
, 平野 雅典
, 林 紘樹
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-298438
公開番号（公開出願番号）：特開2001-112726
特許番号：特許第3683448号
出願日： 1999年10月20日
公開日（公表日）： 2001年04月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 対象物に振動を与える励振手段と、前記対象物内を伝搬した振動を電気信号に変換するセンサ手段と、前記センサ手段からの信号を位相検波により2次元座標平面にサンプル点としてマッピングする位相検波手段と、位相検波した信号をディジタル信号に変換するアナログ-ディジタル変換手段と、各サンプル点グループ毎に算出された分布から円弧中心を推定する円弧中心推定手段と、前記円弧中心から見込んだサンプル点の位相角を算出する位相角算出手段とを具備する物理パラメータ測定装置において、前記円弧中心推定手段に、2次元平面上でのデータ間の距離差を規定する距離差規定手段と、前記規定された距離以上の距離差を持つ3つのサンプル点からなるサンプル点グループを複数選択する選択手段と、前記選択された各サンプル点グループに含まれる3点を通る円の中心を算出する円中心算出手段と、中心位置座標データのローパスフィルタリングを行うローパスフィルタ手段と、3点をA,B,Cとして、ベクトルABとベクトルBCの内積を計算し、内積が正である時のみ円中心を演算し、負となる場合は演算を行わず入力データを破棄する手段とを設けたことを特徴とする物理パラメータ測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
A61B 5/02 337 A
, A61B 5/00 101 R
