特許
J-GLOBAL ID：201103010523876120
量子効率測定方法、量子効率測定装置、および積分器
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (7件)：
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 酒井 將行
, 荒川 伸夫
, 佐々木 眞人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-061804
公開番号（公開出願番号）：特開2011-196735
出願日： 2010年03月18日
公開日（公表日）： 2011年10月06日
要約：
【課題】量子効率の測定時における再励起(二次励起)に起因する誤差を低減できる量子効率測定方法、量子効率測定装置、およびそれに向けられた積分器を提供する。【解決手段】本実施の形態に従う量子効率測定方法においては、積分空間内に配置された試料SMPに励起光を照射して発生する光(蛍光)を測定することで量子効率を測定する。この際、試料SMPを透過後の励起光が積分空間内に反射するような状態で、試料SMPに吸収される励起光を測定し、試料SMPを透過後の励起光が積分空間内に反射しないような状態で、試料SMPから発生する光(蛍光)を測定する。【選択図】図6
請求項（抜粋）：
積分空間を有する積分器内の所定位置に試料を配置するステップと、
前記積分器に設けられた第1の窓を通じて励起光を前記所定位置に配置された前記試料に照射するとともに、前記積分器の前記励起光の光軸とは交差しない位置に設けられた第2の窓を通じて前記積分空間内のスペクトルを第1のスペクトルとして測定するステップと、
前記第1の窓と対向し、かつ、前記積分器内の前記励起光の光軸が交差する励起光入射部分を、前記試料を透過後の励起光が前記積分空間内に反射しないように構成するステップと、
励起光が前記積分空間内に反射しないようにされた後、前記第1の窓を通じて前記励起光を前記所定位置に配置された前記試料に照射するとともに、前記第2の窓を通じて前記積分空間内のスペクトルを第2のスペクトルとして測定するステップと、
前記第1のスペクトルのうち前記励起光の波長範囲に対応する成分と、前記第2のスペクトルのうち前記励起光を受けて前記試料が発する光の波長範囲に対応する成分とに基づいて、前記試料の量子効率を算出するステップとを備える、量子効率測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (21件)：
2G020AA04
, 2G020AA05
, 2G020CA01
, 2G020CB43
, 2G020CC02
, 2G020CC63
, 2G020CD03
, 2G020CD14
, 2G020CD24
, 2G020CD36
, 2G043AA06
, 2G043EA01
, 2G043GA02
, 2G043GB01
, 2G043HA04
, 2G043HA05
, 2G043JA04
, 2G043KA02
, 2G043KA03
, 2G043LA03
, 2G043MA16
