特許

J-GLOBAL ID：201103012634385845

試料台およびそれを用いた蛍光X線分析装置

発明者： 小倉 啓助 ,  藤田 剛
出願人/特許権者： 理学電機工業株式会社
代理人 (1件)： 杉本 修司 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-153295
公開番号（公開出願番号）：特開2000-074859
特許番号：特許第3072092号
出願日： 1999年06月01日
公開日（公表日）： 2000年03月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 所定の直径を有する円板状の試料が載置される試料台であって、試料台の上面の一部に凸部を備え、その凸部が、試料台の上面に一体に形成され、前記所定の直径以下の内径を有する輪状の凸部であり、その凸部の上面が同一表面上にあり、その凸部の上面に前記試料の非分析面の一部が接触して載置される試料台。

IPC (2件)：

G01N 23/223 ,  G01N 1/28

FI (2件)：

G01N 23/223 ,  G01N 1/28 W

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 水晶板のカット面検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-352674   出願人：理学電機株式会社
• 特公平4-012412
  
• 蛍光X線の分析方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-318527   出願人：理学電機工業株式会社