特許
J-GLOBAL ID:201103014869291190
パターンの位置合わせ方法
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山川 政樹
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-248543
公開番号(公開出願番号):特開2001-074414
特許番号:特許第3694198号
出願日: 1999年09月02日
公開日(公表日): 2001年03月23日
請求項(抜粋):
【請求項1】基準となるマスタパターンの画像とカメラで撮像した被測定パターンの画像とを比較することにより被測定パターンを検査するパターン検査方法において、マスタパターンと被測定パターンの位置合わせを行う位置合わせ方法であって、被測定パターンとマスタパターンの全領域について互いの第1の位置決めマークの位置を合わせることによりマスタパターンと被測定パターンの全体の位置合わせを行った後に、マスタパターン中に複数の分割領域を設定し、パターンと直交する少なくとも4本の仮想のラインを第2の位置決めマークとして設定することを分割領域毎に行い、マスタパターンの分割領域に対応する被測定パターンの分割領域を抽出して、前記第2の位置決めマークに対応する位置を中心とする所定の範囲についてマスタパターンとの相関値を算出し、最も相関値が高いピーク位置を被測定パターンの第2の位置決めマークと見なし、被測定パターンとマスタパターンの互いの第2の位置決めマークの位置を合わせることにより、マスタパターンと被測定パターンの位置合わせを分割領域毎に行うことを特徴とするパターンの位置合わせ方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01B 11/00 H
, G06T 7/60 150 B
引用特許:
出願人引用 (2件)
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外観検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-136271
出願人:富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
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パターン検査方法及びパターン検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-302807
出願人:日本アビオニクス株式会社
審査官引用 (2件)
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外観検査方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-136271
出願人:富士ファコム制御株式会社, 富士電機株式会社
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パターン検査方法及びパターン検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-302807
出願人:日本アビオニクス株式会社
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