特許
J-GLOBAL ID:201103018462457642

光パルス試験器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 雨貝 正彦
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-082639
公開番号(公開出願番号):特開2000-275138
特許番号:特許第4041242号
出願日: 1999年03月25日
公開日(公表日): 2000年10月06日
請求項(抜粋):
【請求項1】 光増幅媒体を含むファイバリングレーザを用いて被測定光ファイバに対して入射する光パルスを発生するとともに、前記光パルスに対応して前記被測定光ファイバから戻ってくる後方散乱光を前記光増幅媒体によって増幅する光パルス発生手段と、 前記光パルス発生手段によって増幅された前記後方散乱光に基づいて、前記光ファイバの特性測定を行う測定手段と、 を備えることを特徴とする光パルス試験器。
IPC (1件):
G01M 11/00 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01M 11/00 R
引用特許:
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (3件)
  • OTDR測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-272678   出願人:安藤電気株式会社, 日本電信電話株式会社
  • 特許第3141864号
  • 光パルス試験機能を有する分岐光線路
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-270025   出願人:日本電信電話株式会社

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