特許
J-GLOBAL ID：201103019719062659
テストプログラム作成装置およびその方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
丸山 隆夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-139233
公開番号（公開出願番号）：特開2002-333991
特許番号：特許第3473590号
出願日： 2001年05月09日
公開日（公表日）： 2002年11月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 半導体集積回路のテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置において、前記半導体集積回路の論理ピンについての情報をもとにピン対応情報を作成する手段と、前記ピン対応情報を参照して、所定のテストグループの分け方の条件に合致する前記論理ピンについてのグルーピング情報を作成する手段と、前記ピン対応情報およびグルーピング情報から、前記半導体集積回路とその試験装置のピンについての情報を解析情報として編集し、出力する解析情報作成手段と、前記半導体集積回路についての共通情報と個別情報を含むプログラムを格納する手段と、前記グルーピング情報と前記プログラムをもとにテストプログラムを出力する制御手段とを備え、前記解析情報作成手段は、前記対応情報を、指定された項目毎に分類して所定のテストフェーズに合わせた形式で出力し、前記解析情報は、前記半導体集積回路とその試験装置のすべてのピンに関する対応情報を含み、前記制御手段は、前記条件をもとにグループ分けした前記テストグループに属するピン数に応じて前記テストプログラムの出力を制御することを特徴とするテストプログラム作成装置。
IPC (2件)：
G06F 11/22 310
, G01R 31/3183
G06F 11/22 310 A
, G01R 31/28 Q
