特許
J-GLOBAL ID：201103021296058964
バックグランド放射光の抑制に有利なTOF領域
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人原謙三国際特許事務所
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-507941
公開番号（公開出願番号）：特表2011-520116
出願日： 2009年05月11日
公開日（公表日）： 2011年07月14日
要約：
放射光の飛行時間を測定する方法は、第1の変調信号に応じて変調光(51)を放出するステップと、シーン(55)に変調光(51)を投影するステップと、放射光を受光するステップとを含み、受光した上記放射光は、少なくとも、シーン(55)によって反射された変調光を含んでいる。受光した上記放射光(26、27)は、放射光により誘起する電気信号に変換される。上記放射光により誘起する電気信号は第2の変調光と混合され、従って、混合信号を生成する。混合信号は、積分され、従って、積分信号を生成する。上記積分信号が閾値(Vref)を超えるとき、電荷は積分信号に注入される。上記方法は、第1及び第2の変調信号の変化を時間内に1または複数の期間で適合するステップと、時間内の1または複数の期間で積分信号を測定するステップとを含み、従って、少なくとも1つのTOFペアの信号の差(62)を取得するステップを含んでいる。上記測定するステップは、単一の検出器ノード(38)を使用するステップと、TOFペアの信号の差(62)を取得するために、メモリエレメント(25)を連結させるステップを含んでいる。上記方法は、更に、放射光の飛行時間を決定するための1または複数のTOFペアの信号の差を使用するステップを含む。
請求項（抜粋）：
放射光の飛行時間を測定する測定方法であって、
第1の変調信号に応じて変調光(51)を放出するステップと、
シーン(55)に上記変調光(51)を投影するステップと、
少なくともシーン(55)によって反射された変調光を含む放射光を受光するステップと、
受光した上記放射光(26、27)を、放射光により誘起する電気信号に変換するステップと、
上記放射光により誘起する電気信号を第2の変調信号と混合することによって、混合信号を生成するステップと、
上記混合信号を積分することによって、積分信号を生成するステップと、
上記積分信号が閾値を超える場合に、電荷を該積分信号に注入するステップと、
1以上の時点において、第1の変調信号および第2の変調信号の少なくともいずれかを変化させるステップと、
1以上の時点において上記積分信号を計測することにより少なくとも1つのTOFペアについて差分の信号を取得するステップであって、1つのTOFペアの差分の信号を取得するために単一の検出器のノードおよび対応するコンデンサを用いるステップと、
上記差分が注入された電荷の振幅に対応する電圧(65)の1または複数倍にほぼ等しい値の半分より大きいときはいつでも、上記TOFペアの差分から注入された電荷の振幅に対応する電圧(65)の1または複数倍にほぼ等しい値を減算し、且つ、上記差分が注入された電荷の振幅に対応する電圧(65)の1または複数倍にほぼ等しい値の半分のマイナス値より小さいときはいつでも、TOFペアの差分に注入された電荷の振幅に対応する電圧(65)の1または複数倍にほぼ等しい値を加算することによって、TOFペアの差分の補正信号を取得するステップと、
1または複数のTOFペアに関する差分の補正信号を用いることによって放射光の飛行時間を決定するステップと、を含んでいることを特徴とする測定方法。
IPC (3件)：
G01S 17/10
, G01S 7/48
, G01C 3/06
G01S17/10
, G01S7/48 Z
, G01C3/06 120Q
2F112AD01
, 2F112BA07
, 2F112CA12
, 2F112DA28
, 2F112EA05
, 2F112EA07
, 2F112EA11
, 2F112FA03
, 2F112FA08
, 2F112FA12
, 2F112FA14
, 2F112FA21
, 2F112FA45
, 2F112GA01
, 5J084AD01
, 5J084BA19
, 5J084BA20
, 5J084BA40
, 5J084CA10
, 5J084CA22
, 5J084CA31
, 5J084CA53
, 5J084CA61
, 5J084CA62
, 5J084CA65
, 5J084CA67
, 5J084CA69
, 5J084CA70
, 5J084EA02
