特許
J-GLOBAL ID：201103021853383490

RAM診断装置、そのプログラム

発明者：
西田 廣治

西田 廣治 について


出願人/特許権者：
富士電機ホールディングス株式会社

富士電機ホールディングス株式会社 について


代理人 (1件)： 大菅 義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-175917
公開番号（公開出願番号）：特開2011-028657
出願日： 2009年07月28日
公開日（公表日）： 2011年02月10日
要約：
【課題】ダブルRAMアルゴリズムを用いるRAM診断手法に係り、処理負荷や処理時間の増大を招くことなく、診断間隔の時間保証を実現する。【解決手段】安全関連データ書込関数11、読込関数12により、RAM20に対して、安全関連データの書込/読込が行われ、データ読込の際にその格納領域の診断が行われる。これはダブルRAMアルゴリズムを用いるRAM診断である。そして、RAM管理テーブル17内を更新する。診断時限保証タスク13は所定の診断間隔で動作し、RAM20の診断を行う。その際、RAM管理テーブル17を参照することで、安全関連データ領域22において診断未実施の記憶領域を認識し、この記憶領域に対してのみ診断処理を行う。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
各種安全関連データがそれぞれ安全関連データ用領域内の所定の1又は複数のアドレスに格納されるRAMに対して、ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行うRAM診断装置であって、 前記RAMにおける前記安全関連データ用領域内の前記各アドレス毎に対応して、該アドレスについて前記RAM診断処理を実施済か未実施かを示す管理情報を記憶する管理情報記憶手段と、 任意の前記安全関連データを前記RAMからリードする処理又は該RAMにライトする処理を行う手段あって、該リード処理の際に、該リードする安全関連データの格納領域に関して前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行うと共に、前記管理情報記憶手段における該RAM診断処理を行った格納領域のアドレスに対応する前記管理情報を、実施済とする安全関連データアクセス処理手段と、 予め決められた診断間隔で、前記管理情報記憶手段を参照して、未実施となっている管理情報に対応するアドレスに関して、前記ダブルRAMアルゴリズムによるRAM診断処理を行う診断時限保証手段と、 を有することを特徴とするRAM診断装置。
IPC (1件)：
G06F 12/16
FI (1件)：
G06F12/16 330C
Fターム (4件)：
5B018GA03 ,  5B018HA01 ,  5B018NA01 ,  5B018QA13
引用特許：
審査官引用 (4件)
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