特許

J-GLOBAL ID：201103022072176828

A/D変換器、A/D変換器測定システム及び半導体装置

発明者： 中丸 晃慶 ,  武田 均
出願人/特許権者： 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 ,  東芝デジタルメディアエンジニアリング株式会社 ,  株式会社東芝
代理人 (7件)： 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  川又 澄雄 ,  中村 友之 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-006490
公開番号（公開出願番号）：特開2002-214304
特許番号：特許第3776731号
出願日： 2001年01月15日
公開日（公表日）： 2002年07月31日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 入力されるアナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換回路と、 前記A/D変換回路を初期化する初期値設定回路と、 前記A/D変換回路の外部入力端子に接続されたコンデンサを充放電して三角波を前記外部入力端子に発生させる電流を発生する三角波発生回路と、 前記三角波発生回路に前記コンデンサを充電するための電流を発生させるか、或いは放電させるための電流を発生させるかを前記A/D変換回路の出力デジタル信号の値により制御する三角波制御回路とを具備し、 前記三角波制御回路は、前記A/D変換回路の出力デジタル信号が全て0になると、前記三角波発生回路に前記コンデンサを充電する電流を発生させ、前記出力デジタル信号が全て1になると、前記コンデンサを放電させる電流を発生させる ことを特徴とするA/D変換器。

IPC (6件)：

G01R 31/316 ( 200 6.01) ,  G01R 31/00 ( 200 6.01) ,  G01R 31/28 ( 200 6.01) ,  G01R 31/3185 ( 200 6.01) ,  G01R 31/3183 ( 200 6.01) ,  H03M 1/10 ( 200 6.01)

FI (6件)：

G01R 31/28 C ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/28 V ,  G01R 31/28 W ,  G01R 31/28 Q ,  H03M 1/10 C

引用特許：

審査官引用 (4件)

• アナログ/ディジタル変換回路測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-063584   出願人：ソニー株式会社
• 特開昭59-223018
  
• A/Dコンバータをテストする方法と装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-168604   出願人：エイ・ティ・アンド・ティ・コーポレーション
• 特開平4-312019