特許
J-GLOBAL ID:201103023126799792
部品検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-242801
公開番号(公開出願番号):特開2003-053274
特許番号:特許第4275875号
出願日: 2001年08月09日
公開日(公表日): 2003年02月25日
請求項(抜粋):
【請求項1】 無限軌道搬送体を送り駆動することにより創出される搬送面によって部品を搬送するコンベアと、
回転可能に配置されるとともに、前記無限軌道搬送体の搬送面上の部品が移行される載置面を有し、当該載置面の一部と前記搬送面とが重なるように、載置面の一部を当該搬送面の下方に配置して当該搬送面上の部品を当該載置面に移行可能とし、当該載置面に移行した部品を搬送する回転体と、
前記回転体を回転駆動する回転駆動源と、
前記コンベアを搬送される部品を案内して前記回転体に移行させる移行ガイドと、
前記回転体を搬送される部品を検査する検査部と
を備えていることを特徴とする部品検査装置。
IPC (3件):
B07C 5/02 ( 200 6.01)
, B07C 5/10 ( 200 6.01)
, B65G 47/80 ( 200 6.01)
FI (3件):
B07C 5/02
, B07C 5/10
, B65G 47/80 C
引用特許: