特許
J-GLOBAL ID：201103026224879540
内径測定装置
出願人/特許権者：
日本金属化学株式会社
日本金属化学株式会社 について
代理人 (5件)： 鈴江 武彦 , 村松 貞男 , 橋本 良郎 , 河野 哲 , 中村 誠
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-298230
公開番号（公開出願番号）：特開2001-116503
特許番号：特許第4499222号
出願日： 1999年10月20日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 被測定物を載置する支持台と、
この支持台の中央部に配置され、支持台の被測定物載置面を含む平面内の原点を形成する測定基準ポストと、
この測定基準ポストを中心として周方向に所定角度に離隔した少なくとも3つの位置で、この支持台上に載置された被測定物の内周面と前記原点との間の半径方向距離を測定する測距手段とを備え、
前記測距手段は、前記測定基準ポストの周部に沿って互いに離隔して配置され、それぞれ測定基準ポストから半径方向に沿って移動可能な3つの接触子と、前記測定基準ポストに対するそれぞれの接触子の位置を検出する検出手段と、を備え、
前記検出手段は、接触子と一体的に形成されかつ前記測定基準ポストの軸線に対して傾斜した傾斜面を有するテーパ板と、このテーパ板の傾斜面に係合し、接触子が半径方向に移動したときに軸線方向に沿って移動される接触子ロッドと、この接触子ロッドの移動量を検出する変位センサとを有し、
3つの接触子のそれぞれが被測定物の内周面に当接したときの、各検出手段の検出値から、被測定物の内周面上のそれぞれの点の半径方向距離を測定し、これらの半径方向距離から、前記3つの点を通る円の径を算出し、被測定物の内径を測定可能としたことを特徴とする内径測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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