特許
J-GLOBAL ID：201103028587413995
顕微分光測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (2件)：
鎌田 耕一
, 黒田 茂
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-151127
公開番号（公開出願番号）：特開2005-331419
特許番号：特許第4336847号
出願日： 2004年05月21日
公開日（公表日）： 2005年12月02日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 試料の一部を測定部分として前記測定部分の分光測定を行う顕微分光測定装置であって、
第1の光学系と第2の光学系とを含み、
前記第1の光学系は、第1の光を前記測定部分に入射させて、前記測定部分の透過スペクトルおよび前記測定部分の反射スペクトルから選ばれる少なくとも1つのスペクトル(A)を測定するための光学系であり、
前記第2の光学系は、第2の光を前記測定部分に入射させて、前記測定部分のラマンスペクトルおよび前記測定部分の蛍光スペクトルから選ばれる少なくとも1つのスペクトル(B)を測定するための光学系であり、
前記第1および第2の光学系は、複数の光学素子を共有しており、
前記第1の光学系の光路と前記第2の光学系の光路とは、重なっている部分であって且つ前記第1の光と前記第2の光とが互いに逆方向に進行する部分を含み、
前記第1の光学系と前記第2の光学系とが切り替え可能であり、
前記第1および第2の光学系が第1および第2のミラーを共有しており、
前記第1の光学系において、前記第1のミラーは前記第1の光を前記試料の方向に反射し、前記第2のミラーは前記試料を透過した前記第1の光を第1の光検出器の方向に反射し、
前記第2の光学系において、前記第2のミラーは前記第2の光を前記試料の方向に反射し、前記第1のミラーは前記試料から発せられる光を第2の光検出器の方向に反射する、顕微分光測定装置。
IPC (4件)：
G01N 21/27 ( 200 6.01)
, G01N 21/64 ( 200 6.01)
, G01N 21/65 ( 200 6.01)
, G02B 21/00 ( 200 6.01)
G01N 21/27 E
, G01N 21/64 E
, G01N 21/65
, G02B 21/00
