半導体デバイスシミュレート装置及びそれを用いた半導体試験用プログラムデバッグ装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：雨貝正彦
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-067618
公開番号（公開出願番号）：特開2000-267881
特許番号：特許第3942765号
出願日： 1999年03月15日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
請求項（抜粋）：

【請求項1】被検査用半導体デバイスの信号ピンあるいは電源ピンの抵抗値に依存して変化する電流値又は電圧値を測定するための各種パラメータを設定するパラメ-タ設定手段と、前記被検査用半導体デバイスに対する試験信号を入力する入力手段と、前記パラメータ及び前記試験信号に応じて前記被検査用半導体デバイスの信号ピンあるいは電源ピンの抵抗値に依存した電流値又は電圧値をシミュレートして出力するシミュレート手段とを含んで構成されることを特徴とする半導体デバイスシミュレート装置。

IPC (2件)：