テストシステム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大日方富雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-116790
公開番号（公開出願番号）：特開平7-319950
出願日： 1994年05月30日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：

【要約】【目的】回路デバッグの作業効率を高めて開発期間を短縮させる。【構成】テスタの動作をソフトウェア的に模擬する仮想テスタととともに、この仮想テスタが実行可能なテストプログラムを実テスタが実行可能なテストプログラムに変換するプログラム変換手段を設ける。【効果】回路デバッグから思考錯誤的な要素を排除することができる。

請求項（抜粋）：

ネットリスト等によってソフトウェア的に表現される仮想回路の動作試験を模擬する仮想テスタと、この仮想テスタのテスト内容を記述したテストプログラムの作成および修正を支援するプログラム作成支援装置と、上記仮想テスタのテストプログラム記述を実物回路の動作試験を行う実テスタのテストプログラム記述に変換するプログラム変換手段とを備えたことを特徴とするテストシステム。

IPC (2件)：

G06F 17/50 , G06F 11/22 310

引用特許：

審査官引用 (10件)

テスト設計装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-142857 出願人：株式会社日立製作所
特開平2-191067
論理シミュレーション結果編集装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-131931 出願人：三菱電機株式会社

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