特許
J-GLOBAL ID：201103030671140648
有機ELディスプレイ基板の点灯検査設備及び点灯検査方法、有機ELディスプレイ基板の欠陥検査修正装置及び欠陥検査修正方法並びに有機ELディスプレイ製造システム及び製造方法。
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-291184
公開番号（公開出願番号）：特開2011-134489
出願日： 2009年12月22日
公開日（公表日）： 2011年07月07日
要約：
【課題】本発明は最終のパネル形態が樹脂封止構造であっても画素欠陥の修復が可能で、欠陥修正後の画素の信頼性が高く、または検査修正の処理時間が短く、あるいは欠陥修正の成功率が高く、自動化が可能で生産性の高い有機ELディスプレイ基板の点灯検査設備または点灯検査方法、有機ELディスプレイ基板の欠陥検査修正装置または欠陥検査修正方法あるいは有機ELディスプレイ製造システムまたは及び製造方法を提供する。【解決手段】本発明は有機EL素子の各画素を点灯させる点灯検査用の専用配線及び専用電極パッドを有するマザー基板の前記専用電極パットに給電し前記各画素を点灯させ、前記点灯結果に基づいて前記各画素のうち点灯していない欠陥画素とその位置を検出する。そして、封止前に前記欠陥画素の異物にレーザ光を照射して欠陥を修復する。【選択図】図10
請求項（抜粋）：
有機EL素子の各画素を点灯させる点灯検査用の専用配線及び専用電極パッドを有するマザー基板の前記専用電極パッドに給電し前記各画素を点灯させる点灯手段と、前記点灯結果に基づいて前記各画素のうち点灯していない欠陥画素とその位置を検出する欠陥画素検出手段とを有することを特徴とする有機ELディスプレイ基板の点灯検査設備。
IPC (4件)：
H05B 33/12
, H01L 51/50
, H05B 33/10
, H05B 33/04
H05B33/12 Z
, H05B33/14 A
, H05B33/10
, H05B33/04
3K107AA01
, 3K107BB01
, 3K107CC21
, 3K107CC45
, 3K107EE03
, 3K107EE46
, 3K107GG28
, 3K107GG37
, 3K107GG56
, 3K107GG57
