特許
J-GLOBAL ID:201103030745278574

基板処理方法および基板処理装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 近藤 利英子 (外1名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-307029
公開番号(公開出願番号):特開2002-118085
特許番号:特許第3535820号
出願日: 2000年10月06日
公開日(公表日): 2002年04月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 基板上に存在する有機物の除去方法であって、オゾンを含有したガスを超純水に溶解した水(以下オゾン水という)で基板を処理する工程と、水素を含有したガスを超純水に溶解した水(以下水素水という)で基板を処理する工程とを含み、オゾン水、または水素水で基板を処理する工程のいずれかの工程の前に、有機溶剤で基板の洗浄を行ない、これらの工程を連続的に行うことを特徴とする基板処理方法。
IPC (6件):
H01L 21/304 641 ,  H01L 21/304 643 ,  H01L 21/027 ,  H05K 3/26 ,  B08B 3/12 ,  G03F 7/40
FI (6件):
H01L 21/304 641 ,  H01L 21/304 643 A ,  H05K 3/26 E ,  B08B 3/12 ,  G03F 7/40 ,  H01L 21/30 572 B
引用特許:
出願人引用 (6件)
  • 電子材料の洗浄方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-291027   出願人:栗田工業株式会社
  • 半導体基板の洗浄方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-173923   出願人:三菱マテリアルシリコン株式会社, 三菱マテリアル株式会社
  • 基板洗浄装置及び基板洗浄方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-247559   出願人:株式会社ウルトラクリーンテクノロジー開発研究所
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審査官引用 (8件)
  • 電子材料の洗浄方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-291027   出願人:栗田工業株式会社
  • 半導体基板の洗浄方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-173923   出願人:三菱マテリアルシリコン株式会社, 三菱マテリアル株式会社
  • 基板洗浄装置及び基板洗浄方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-247559   出願人:株式会社ウルトラクリーンテクノロジー開発研究所
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