特許
J-GLOBAL ID：201103031101895633

3次元形状測定装置、3次元形状測定付加装置および3次元形状測定方法

発明者：
新妻 素直

新妻 素直 について


出願人/特許権者：
株式会社IHI

株式会社IHI について


代理人 (1件)： 特許業務法人青海特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-095048
公開番号（公開出願番号）：特開2011-226850
出願日： 2010年04月16日
公開日（公表日）： 2011年11月10日
要約：
【課題】被測定物の視認性や人の作業効率に影響を与えることなく、高精度かつ確実に被測定物の3次元形状を導出する。【解決手段】3次元形状測定装置110は、被測定物102に投光する投光源150と、被測定物で反射された反射光を受光し投影像を形成する受光素子160と、2値化された制御信号を生成する信号生成部170と、被測定物に照明光を照射する照明装置120を制御信号が第1状態を示す間消灯する照明制御部162と、制御信号が第1状態を示す間に、受光素子に投影像を形成させる投影像形成制御部172と、受光素子で形成された投影像に基づいて被測定物の3次元形状を導出する3次元形状導出部176とを備える。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
被測定物に投光する投光源と、 前記被測定物で反射された反射光を受光し投影像を形成する受光素子と、 2値化された制御信号を生成する信号生成部と、 前記被測定物に照明光を照射する照明装置を前記制御信号が第1状態を示す間消灯する照明制御部と、 前記制御信号が第1状態を示す間に、前記受光素子に投影像を形成させる投影像形成制御部と、 前記受光素子で形成された投影像に基づいて前記被測定物の3次元形状を導出する3次元形状導出部と、 を備えることを特徴とする3次元形状測定装置。
IPC (1件)：
G01B 11/25
FI (1件)：
G01B11/25 H
Fターム (37件)：
2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD12 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF06 ,  2F065FF09 ,  2F065FF11 ,  2F065FF32 ,  2F065FF42 ,  2F065GG04 ,  2F065GG06 ,  2F065GG07 ,  2F065GG22 ,  2F065GG24 ,  2F065HH04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH07 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL08 ,  2F065LL13 ,  2F065LL22 ,  2F065MM15 ,  2F065NN02 ,  2F065NN08 ,  2F065NN12 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ47 ,  2F065UU01 ,  2F065UU05
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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