特許

J-GLOBAL ID：201103033054793994

電子ディスプレイ装置の画素欠陥検査方法

発明者： 望月 淳 ,  堀内 立夫 ,  酒井 薫 ,  浅野 敏郎 ,  中豊留 博文 ,  大沢 敦夫 ,  古川 正
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-072450
公開番号（公開出願番号）：特開2000-338000
特許番号：特許第3755375号
出願日： 2000年03月10日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
請求項（抜粋）：

【請求項1】電子ディスプレイ装置の画素欠陥検査方法であって、以下の工程を含むことを特徴とする、 電子ディスプレイ装置の表示画面と撮像手段の撮像素子との相対位置を、前記電子ディスプレイ装置の表示画面の画素の開口率をaとしたときにa×nが正の整数となるようなnを用いて前記画素のピッチの1/nづつ変化させながら前記撮像手段で前記電子ディスプレイ装置の表示画面を撮像して該表示画面の複数の画像データを得る工程、 前記画素のピッチの1/nづつずらしたn枚の画像を用いて元の画像データに対して一辺についてn倍の解像度の画像を再構成してこの再構成した画像の画素の値について順次移動平均を取り、元の画像データに対して、一辺についてn倍の解像度の画像になるように複数の画像データを合成して該複数の画像データのそれぞれに含まれる撮像モアレを低減させた合成画像データを作成する工程、及び、 該合成画像データを用いて前記電子ディスプレイ装置の表示面の画素欠陥を検出する工程。

IPC (3件)：

G01M 11/00 ( 200 6.01) ,  G01N 21/956 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01M 11/00 T ,  G01N 21/956 Z ,  G06T 1/00 300

引用特許：

審査官引用 (3件)

• フラットパネルディスプレイの表示欠陥抽出方法及びそのための装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-320297   出願人：カシオ計算機株式会社, 沖電気工業株式会社
• 周期性パターンのムラ定量化方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-062953   出願人：大日本印刷株式会社
• 表示素子検査方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-248470   出願人：ミナトエレクトロニクス株式会社