特許

J-GLOBAL ID：201103033776808392

加熱選別装置

発明者： 開発 久雄
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 小森 久夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-314659
公開番号（公開出願番号）：特開2001-133513
特許番号：特許第3554783号
出願日： 1999年11月05日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
請求項（抜粋）：

【請求項1】本体外部から供給される電子部品を搬送する搬送路と、該搬送路を搬送中の電子部品を加熱するとともに電子部品の電気的特性を測定する加熱測定部と、測定結果に応じて電子部品を選別する選別部と、を備えた加熱選別装置において、上記搬送路は、歯車状の上円板テーブルと、下円板テーブルとが積層されてなり、上円板テーブルの回転にともなって、上円板テーブルの隣接する歯の間で、上記電子部品を下円板テーブルの外周部上を連続して搬送するように構成していて、上記加熱測定部は、上記下円板テーブルの外周の一部に、セラミックからなるヒータを設けた加熱領域と、該加熱領域で加熱された電子部品の電気的特性を測定する測定領域とを備え、上記ヒータは、多孔質セラミックからなる断熱材に載置していて、該断熱材にエアを吹き付けるエアノズルを設けた加熱選別装置。

IPC (2件)：

G01R 31/26 ,  B07C 5/344

FI (3件)：

G01R 31/26 H ,  G01R 31/26 Z ,  B07C 5/344

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 検査方法及び検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-041234   出願人：東京エレクトロン株式会社, 東京エレクトロン山梨株式会社
• ICのプリヒート装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-290417   出願人：安藤電気株式会社
• 特開昭63-081787
  
• 特開昭63-064981
  

審査官引用 (4件)

• 検査方法及び検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-041234   出願人：東京エレクトロン株式会社, 東京エレクトロン山梨株式会社
• ICのプリヒート装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-290417   出願人：安藤電気株式会社
• 特開昭63-081787
  
• 特開昭63-064981