特許
J-GLOBAL ID：201103035631642952
磁気抵抗効果素子の抵抗値測定方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山▲崎▼ 薫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-360353
公開番号（公開出願番号）：特開2001-176007
特許番号：特許第3698940号
出願日： 1999年12月20日
公開日（公表日）： 2001年06月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 センスチャンネルに接続される抵抗器に、第1電流値で特定される第1検査電流を供給する工程と、センスチャンネルに現れる電位差を増幅するアンプから第1検査電流に基づき出力される第1出力電圧値を検出する工程と、第1電流値と異なる第2電流値で特定される第2検査電流を前記抵抗器に供給する工程と、第2検査電流に基づき前記アンプから出力される第2出力電圧値を検出する工程と、抵抗器の抵抗値、第1および第2電流値並びに第1および第2出力電圧値に基づき前記アンプの増幅特性を算出する工程と、センスチャンネルに接続される磁気抵抗効果素子に、第3電流値で特定される素子検査電流を供給する工程と、素子検査電流に基づき前記アンプから出力される検査出力電圧値を検出する工程と、第3電流値、検査出力電圧値および前記アンプの増幅特性に基づき磁気抵抗効果素子の抵抗値を特定する工程とを備えることを特徴とする磁気抵抗効果素子の抵抗値測定方法。
IPC (4件)：
G11B 5/02
, G01R 33/09
, G11B 5/39
, G11B 5/455
G11B 5/02 U
, G11B 5/39
, G11B 5/455 C
, G01R 33/06 R
