半導体集積回路およびそのテスト方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小栗昌平 (外4名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-340708
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139825
特許番号：特許第3489742号
出願日： 2001年11月06日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】シフト動作とキャプチャ動作とをスキャン動作切り換え信号により切り換えるスキャンテスト機能を有するスキャンチェーンを備えた半導体集積回路において、ランダムデータを発生する乱数発生器と、IDDQテストモードを設定するためのIDDQテストモード信号に応じて、前記スキャンチェーンの入力として前記ランダムデータを選択し、前記スキャン動作切り換え信号として前記ランダムデータを選択するセレクタと、を備えたことを特徴とする半導体集積回路。

IPC (2件)：