特許
J-GLOBAL ID:201103037220840667

疵検査装置用校正ロールの調整方法および疵検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 矢葺 知之 ,  津波古 繁夫
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-158922
公開番号(公開出願番号):特開2002-350356
特許番号:特許第4177565号
出願日: 2001年05月28日
公開日(公表日): 2002年12月04日
請求項(抜粋):
【請求項1】 板状の被検査材を巻き掛けて検査を行う支持ロールと、当該支持ロールとロール軸方向に間隔を置いて、且つロール軸を互いに平行にして同じ高さに配置された校正ロールと、当該ロール軸の方向に沿って、支持ロールに対向する位置と校正ロールに対向する位置の間において移動可能な台車と、支持ロールに巻き掛けられた板状の被検査材の表面を該支持ロールの全幅にわたって照明する、前記台車に搭載された照明装置と、被検査材表面を撮像する、前記台車に搭載された撮像装置と、前記支持ロール及び校正ロールそれぞれの外周に、基準線を有する調整シートとを備えた疵検査装置であって、前記校正ロールは、対向する位置にあるときの撮像装置と該校正ロールの表面との相対的な位置が、前記被検査材を検査するときの撮像装置と前記支持ロールの表面との相対的な位置と一致するように調整可能に配設され、前記支持ロールに取り付けられた調整シートに斜め上方および斜め下方から参照光を照射してロール軸方向に間隔をおいた参照マークを調整シートの両端部に形成し、参照光の照射方向が調整可能な参照光照射装置が、前記支持ロールの両端部に対向するようにして前記台車上に設けられ、前記校正ロール及び撮像装置の光学系の位置の調整が可能であることを特徴とする疵検査装置。
IPC (3件):
G01N 21/892 ( 200 6.01) ,  B21C 51/00 ( 200 6.01) ,  G01N 21/93 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01N 21/892 B ,  B21C 51/00 P ,  G01N 21/93
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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