特許
J-GLOBAL ID:201103037369606454

窒化物半導体素子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 豊栖 康弘 (外1名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-330279
公開番号(公開出願番号):特開2001-168390
特許番号:特許第3427265号
出願日: 1999年01月29日
公開日(公表日): 2001年06月22日
請求項(抜粋):
【請求項1】 n型窒化物半導体とp型窒化物半導体との間に、活性層を有する窒化物半導体素子において、前記n型窒化物半導体は、AlgGa1-gN(0≦g≦0.2)からなるn型コンタクト層と、GaN層とInpGa1-pN(0<p<1)層とが積層されてなるn型多層膜層と、前記n型コンタクト層と前記n型多層膜層との間にアンドープGaNからなる下層及びn型不純物がドープされたGaNからなる中間層を有するn側第1多層膜層とを含むことを特徴とする窒化物半導体素子。
IPC (4件):
H01L 33/00 ,  H01L 31/04 ,  H01L 31/10 ,  H01S 5/343
FI (4件):
H01L 33/00 C ,  H01S 5/343 ,  H01L 31/04 E ,  H01L 31/10 A
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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