特許
J-GLOBAL ID：201103037448723806
レーザ加工状態計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
後藤 洋介 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-370524
公開番号（公開出願番号）：特開2001-179470
特許番号：特許第3368427号
出願日： 1999年12月27日
公開日（公表日）： 2001年07月03日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 レーザ光を集光光学系を内蔵したレーザトーチで前記集光光学系を通しワークに照射して加工を行うレーザ加工機において、前記レーザトーチの筐体の上方に、前記ワークに照射されるレーザ光の光軸と同軸になるようにして加工部位からの光を受光し、受光した光から複数の特定波長の光を抽出して出力する複数の光学系をケースに収容して成るセンサヘッドを設け、前記ケースの上部には、前記光軸と同軸になるように可視光による観察光学系を設置して該観察光学系により前記加工部位を観察できるようにし、前記センサヘッドと前記集光光学系との間には、前記加工部位からの光を前記センサヘッド側に集光させるための凹レンズを、前記光軸に沿って移動可能に配置し、前記複数の光学系にて抽出された複数の特定波長の光を用いて加工状態の検出を行うことを特徴とするレーザ加工状態計測装置。
IPC (4件)：
B23K 26/00
, B23K 26/02
, G01B 11/30
, G01N 21/71
B23K 26/00 P
, B23K 26/02 C
, G01B 11/30 A
, G01N 21/71
