RAMテストデータ生成回路

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：徳丸達雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-377159
公開番号（公開出願番号）：特開2002-184196
特許番号：特許第3583070号
出願日： 2000年12月12日
公開日（公表日）： 2002年06月28日
請求項（抜粋）：

【請求項1】半導体集積回路にRAMと共に内蔵されテスト時に前記RAMのテストパターンのデータを生成するRAMテストデータ生成回路において、テスト時に制御データが設定されその設定値に対応した前記RAMのアクセスサイクルを検出し検出信号を出力する検出回路と、テスト時に初期値データが設定され前記検出信号の不活性期間にRAMアクセスサイクルごとに反転し前記テストパターンのデータの各ビット出力としてバス出力するフリップフロップ回路とを備えるRAMテストデータ生成回路。

IPC (3件)：