分析物測定方法および自動遺伝子検出装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：山本秀策
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-207128
公開番号（公開出願番号）：特開2003-021636
特許番号：特許第4671548号
出願日： 2001年07月06日
公開日（公表日）： 2003年01月24日
請求項（抜粋）：

【請求項1】目的の分析物を、支持層とこの支持層上に配置されたフォトレジスト層と前記支持層に固定された核酸プローブとを表面に備えた基板の、前記核酸プローブに捕獲する工程、前記基板の表面に、可視光、紫外線光、赤外光、X線、および電子線からなる群から選択されるエネルギーを与え、前記分析物が捕獲された領域の前記フォトレジスト層を改変し、前記基板に凹凸形状を形成する工程、およびこの凹凸形状を走査型プローブ顕微鏡で検出し、それによって該分析物の存在を検出する工程、を包含する、分析物測定方法。

IPC (3件)：