特許
J-GLOBAL ID：201103039088510531

基板保持機構および回路基板検査装置

発明者：
清水 秀一

清水 秀一 について


出願人/特許権者：
日置電機株式会社

日置電機株式会社 について


代理人 (1件)： 酒井 伸司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-312251
公開番号（公開出願番号）：特開2001-133520
特許番号：特許第4312315号
出願日： 1999年11月02日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 ほぼ直立状態の回路基板における下端部および上端部をそれぞれ挟持する下端部挟持手段および上端部挟持手段と、当該下端部挟持手段および当該上端部挟持手段のうちの一方を上下動させる第1上下動機構とを備え、当該第1上下動機構を駆動して当該下端部挟持手段および当該上端部挟持手段を互いに離間させることにより前記回路基板を上下方向に伸張させた状態で検査位置に保持する回路基板検査装置用の基板保持機構であって、 前記回路基板の左端部および右端部をそれぞれ挟持する左端部挟持手段および右端部挟持手段と、前記下端部挟持手段および前記上端部挟持手段のうちの前記一方の上下動に伴って当該一方と同方向にその移動量の二分の一だけ当該左端部挟持手段および当該右端部挟持手段を前記回路基板を介さずに直接移動させることにより当該左端部挟持手段および当該右端部挟持手段を当該下端部挟持手段および当該上端部挟持手段間の中央位置に配置させる第2上下動機構とを備えていることを特徴とする基板保持機構。
IPC (3件)：
G01R 31/28 ( 200 6.01) ,  G01R 31/02 ( 200 6.01) ,  H05K 3/00 ( 200 6.01)
FI (4件)：
G01R 31/28 J ,  G01R 31/28 K ,  G01R 31/02 ,  H05K 3/00 T
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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