特許
J-GLOBAL ID：201103040465591000
PCB取扱施設及び設備における気中PCB濃度の測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：
小栗 昌平
, 本多 弘徳
, 市川 利光
, 高松 猛
, 添田 全一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-151115
公開番号（公開出願番号）：特開2002-340880
特許番号：特許第3967092号
出願日： 2001年05月21日
公開日（公表日）： 2002年11月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 PCB取扱施設及び設備内外における気体のPCB濃度測定方法において、前記気体から採取した全有機ハロゲン化合物濃度をTOX分析装置で測定し、該TOX分析装置による測定値を採取気体量とPCB中の含塩素率との積で除してPCB濃度を算出することを特徴とするPCB取扱施設及び設備内外における気中PCB濃度測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
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