特許
J-GLOBAL ID：200903020560541984

PCB濃度簡易分析装置及び方法

発明者：
澤津橋 徹哉

澤津橋 徹哉 について

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塚原 千幸人

塚原 千幸人 について

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野崎 昭宏

野崎 昭宏 について

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馬場 恵吾

馬場 恵吾 について


出願人/特許権者：
三菱重工業株式会社

三菱重工業株式会社 について


代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-066128
公開番号（公開出願番号）：特開2002-267645
出願日： 2001年03月09日
公開日（公表日）： 2002年09月18日
要約：
【要約】【課題】 反応液中又は排水中のPCB濃度を監視するに際し、迅速且つ再現性が良好なPCB濃度簡易分析装置を提供することを課題とする。【解決手段】 PCB及び薬液102を注入してPCBを分解処理するPCB分解処理反応容器103内においてPCB(PCB含有油も含む)を分解させる分解装置の反応過程の反応管104の反応液105中又は処理後の処理液106中のPCBの濃度を測定する分析装置であって、反応液105又は処理液106中のPCB分解生成物の少なくとも一の分解生成物濃度を測定する検出手段110を備えたPCB分解生成物測定手段111と、予め求めてあるPCB分解生成物濃度とPCB濃度との相関関係によりPCB濃度を演算する演算手段112とを具備してなる。
請求項（抜粋）：
反応容器内においてPCBを分解させる分解装置の反応過程の反応液中又は処理後の処理液中のPCBの濃度を測定する分析装置であって、反応液又は処理液中のPCB分解生成物の少なくともひとつの分解生成物濃度を測定するPCB分解生成物測定手段と、予め求めてあるPCB分解生成物濃度とPCB濃度との相関関係によりPCB濃度を演算する演算手段とを具備してなることを特徴とするPCB濃度簡易分析装置。
IPC (12件)：
G01N 30/72 ,  A62D 3/00 ZAB ,  B01D 15/00 ,  G01N 1/10 ,  G01N 1/22 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/62 ZAB ,  G01N 30/04 ,  G01N 30/06 ,  G01N 30/48 ,  G01N 30/70 ,  G01N 30/88
FI (13件)：
G01N 30/72 A ,  A62D 3/00 ZAB ,  B01D 15/00 A ,  G01N 1/10 C ,  G01N 1/22 T ,  G01N 27/62 C ,  G01N 27/62 ZAB V ,  G01N 30/04 P ,  G01N 30/06 G ,  G01N 30/48 K ,  G01N 30/48 H ,  G01N 30/70 ,  G01N 30/88 C
Fターム (19件)：
2E191BA13 ,  2E191BC01 ,  2E191BD11 ,  2G052AA06 ,  2G052AB11 ,  2G052AD06 ,  2G052AD26 ,  2G052EB01 ,  2G052EB11 ,  2G052ED11 ,  2G052FC07 ,  2G052FC19 ,  2G052GA27 ,  4D017BA04 ,  4D017CA01 ,  4D017CB01 ,  4D017DA01 ,  4D017DB02 ,  4D017EB10
引用特許：
審査官引用 (8件)
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