光デバイスの特性評価システム

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：清水守
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-060413
公開番号（公開出願番号）：特開2000-258299
特許番号：特許第3393081号
出願日： 1999年03月08日
公開日（公表日）： 2000年09月22日
請求項（抜粋）：

【請求項1】光デバイスの特性評価システムにおいて、(a)波長可変フェムト秒短パルス光源と、(b)該波長可変フェムト秒短パルス光源から出力される短パルス光を導入する被測定デバイスと、(c)該被測定デバイスの広帯域の周波数特性や時間応答特性を評価する装置とを具備することを特徴とする光デバイスの特性評価システム。

IPC (1件)：