測距装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴木章夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-163367
公開番号（公開出願番号）：特開2000-187152
特許番号：特許第3326407号
出願日： 1999年06月10日
公開日（公表日）： 2000年07月04日
請求項（抜粋）：

【請求項1】被写体に向けて光を照射する発光素子と、CCD素子で構成されて前記被写体からの反射光を受光する受光センサと、前記受光センサで受光した受光データに基づいて反射光の重心を検出し、かつ前記被写体までの距離を測距するアクティブ測距装置を有し、前記発光素子を発光した状態で検出した前記被写体の第1の受光データと、前記発光素子の発光を停止した状態で検出した前記被写体の第2の受光データとから前記発光素子で発光されて前記被写体で反射された光の受光データのみを演算し、その演算した演算データに基づいて前記重心を検出する演算手段を備え、前記演算手段は、前記第1の受光データと第2の受光データのそれぞれに対し、前記発光素子で発光しかつ前記被写体において反射される光が受光されることがない前記受光センサ内の所定の領域の受光データのみを抽出し、前記抽出した受光データがそれぞれ等しいレベルとなるように少なくとも一方の受光データを補正し、かつ補正した上で補正された第1及び第2の受光データの差を演算し、演算により得られた演算データに基づいて前記重心を検出することを特徴とする測距装置。

IPC (6件)：

G02B 7/28 , G01B 11/00 , G01C 3/06 , G02B 7/32 , G03B 13/36 , H04N 5/232

FI (7件)：

G01B 11/00 B , G01C 3/06 A , H04N 5/232 J , G02B 7/11 N , G02B 7/11 B , G02B 7/11 K , G03B 3/00 A

引用特許：

出願人引用 (3件)

測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-032500 出願人：キヤノン株式会社
測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-032511 出願人：キヤノン株式会社
特開平3-071104

審査官引用 (3件)

測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-032500 出願人：キヤノン株式会社
測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-032511 出願人：キヤノン株式会社
特開平3-071104

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