特許
J-GLOBAL ID：201103047089786177

漏洩磁束測定によって表面近傍の欠陥を検出するための方法および装置

発明者：
ハインリッヒ ブラウン

ハインリッヒ ブラウン について


出願人/特許権者：
インスティトゥート ドクター フェルスター ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー

インスティトゥート ドクター フェルスター ゲーエムベーハー ウント コー カーゲー について


代理人 (1件)： 田辺 徹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-504340
公開番号（公開出願番号）：特表2011-516894
出願日： 2009年03月25日
公開日（公表日）： 2011年05月26日
要約：
【課題】 漏洩磁束測定によって表面近傍の欠陥を検出するための方法と、表面に開口した欠陥および隠れた欠陥の両方を高感度に検出することを可能にする対応する装置とを提供する。【解決手段】 少なくとも部分的に強磁性材料からなる検査試料の表面近傍の欠陥を検出するための方法において、欠陥によって発生した漏れ磁界を検出するために、検査試料の検査容積が磁化されて走査される。検査容積は、一定磁界によって、同時に、それに重畳された交流磁界によって磁化される。本方法を実行するのに適切な漏洩磁界検査装置が記載される。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
少なくとも部分的に強磁性材料からなる検査試料(150、250、350)の表面近傍の欠陥を検出するための方法であって、欠陥によって発生した漏洩磁界を検出するために、前記検査試料の検査容積が磁化されて走査される方法において、前記検査容積が、一定磁界によって、同時に、前記一定磁界に重畳された交流磁界によって磁化されることを特徴とする方法。
IPC (1件)：
G01N 27/83
FI (1件)：
G01N27/83
Fターム (21件)：
2G053AA11 ,  2G053AB19 ,  2G053AB22 ,  2G053BA12 ,  2G053BA13 ,  2G053BA14 ,  2G053BB04 ,  2G053BB11 ,  2G053BC02 ,  2G053BC03 ,  2G053BC07 ,  2G053BC14 ,  2G053CA02 ,  2G053CA05 ,  2G053CA06 ,  2G053CA18 ,  2G053CB26 ,  2G053DA01 ,  2G053DA10 ,  2G053DB14 ,  2G053DB22
引用特許：
出願人引用 (9件)
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審査官引用 (11件)
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