特許
J-GLOBAL ID:201103054256079530

X線CT装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 喜多 俊文 ,  江口 裕之
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-243549
公開番号(公開出願番号):特開2002-055062
特許番号:特許第4374753号
出願日: 2000年08月11日
公開日(公表日): 2002年02月20日
請求項(抜粋):
【請求項1】回転するテーブル上の試料を中心に、X線管とそれに対向してX線検出器を配置し、回転して得られた試料のX線透過データからその断層像を再構成するX線CT装置において、試料をセットする空間の上下の中心に、金属線を垂直に埋設したX線透過性の良いブロックからなる中心位置校正治具付き試料台と、その試料台を上方及び下方に移動させることができる昇降機構と、その昇降機構により前記金属線をX線走査位置に移動させ試料台を回転することによって2本の前記金属線のX線像位置の移動ずれを検出記憶する回路とを設け、試料を回転走査して得られたデータから断層像を再構成する時に前記移動ずれのデータ値だけ空間座標をずらせて畳込み演算と逆投影演算を行い回転中心の校正を自動でできるようにしたことを特徴とするX線CT装置。
IPC (1件):
G01N 23/04 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 23/04
引用特許:
出願人引用 (9件)
  • 断層撮影装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-200330   出願人:株式会社日立製作所
  • 特開平3-209117
  • 特開昭63-286138
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