液晶パネルの評価方法及び評価装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：上柳雅誉 , 藤綱英吉 , 須澤修
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-258216
公開番号（公開出願番号）：特開2003-066400
特許番号：特許第3899874号
出願日： 2001年08月28日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
請求項（抜粋）：

【請求項1】第1基板と、前記第1基板に対向して配置された第2基板と、前記第2基板の前記第1基板側に形成されたカラーフィルタと、前記第1基板及び前記第2基板の間に配置された液晶層と、を有する液晶パネルにおいて前記液晶層の厚さを求めるための液晶パネルの評価方法であって、前記液晶パネルに対して直線偏光を入射させ、前記カラーフィルタと前記液晶層とを通過した透過光から得た検出光の分光スペクトルにおいて、可視光領域中の極小値の得られる波長を元に前記液晶層の厚さを求めることを特徴とする液晶パネルの評価方法。

IPC (3件)：