特許
J-GLOBAL ID:201103054713202785
粒子測定方法及び装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (10件):
特許業務法人浅村特許事務所
, 浅村 皓
, 浅村 肇
, 橋本 裕之
, 吉田 裕
, 森 徹
, 白江 克則
, 田中 正
, 金井 建
, 水本 義光
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-549166
公開番号(公開出願番号):特表2011-513742
出願日: 2009年03月04日
公開日(公表日): 2011年04月28日
要約:
本質的に一定のサンプル流14を生成し、粒子含有サンプルと本質的に清浄なイオン化ガス13とを効率的に混合するためにエゼクタ11を使用してガス内の粒子濃度を測定するための方法。また、本発明は、そのような方法を実施する装置に関する。本方法及び装置は、たとえば燃焼機関の排気システム内の粒子濃度を測定する際に使用することができる。
請求項(抜粋):
ガス内の粒子濃度を監視するための方法であって、前記方法は、粒子含有ガスの少なくとも一部分を、本質的に粒子のないイオン化された別のガスと混合することによって、また粒子によって担持されている電荷を監視することによって、粒子の少なくとも一部分を帯電させることを含む方法において、前記方法は、イオン化された清浄な前記ガスが主流を形成し、サンプル流が側流を形成するエゼクタによって、前記サンプル流を前記粒子含有ガスから吸い込むことを含む方法。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
出願人引用 (3件)
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排気ガス分析装置及び混合システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願2004-347018
出願人:株式会社堀場製作所
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特開昭60-209167
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特開昭50-142286
審査官引用 (6件)
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引用文献:
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